高并行測試能力
3650-S2測試系統具有強大多功能的并行管腳電路（PE），因此可以同時在多個管腳進行相同的參數測試。3650-S2將64個數字通道管腳集成到一張LPC單板上，每張LPC單板包含16顆4通道的時序發生器的高性能Chroma PINF芯片。
單板上集成管理信號分配和數據讀出的控制芯片，因此減少了測試機系統控制器的負擔。3650-S2采用 any-pin-to-anysite mapping 設計，提供高達 32 sites 的高并行測試能力，通過靈活直觀地資源分配來促進大規模量產。
靈活的配置與廣泛的應用覆蓋范圍
半導體制造為一發展迅速前進的產業，生產設備須能使用于多個產品型號更替與應用領域，以延長設備使用期限。 Chroma 3650-S2提供AD/DA轉換器測試、ALPG供內存測試、高電壓PE、Multi-SCAN測試及模擬測試等多種可選配功能，靈活的配置確保其能應對未來的測試需求。
Chroma 3650-S2測試系統能輕松整合第三方廠商為特定應用所開發的相關儀器設備，彈性結構設計使其能涵蓋測試的裝置更廣泛，擴展了測試的覆蓋范圍。
占地面積小
Chroma 3650-S2采用風冷式散熱及高度集成的測試頭設計，占地面積小卻能提供高高產量。透過選配不同的支架，3650-S2可以應用于晶圓或封裝測試。
CRISP 完整軟件直觀操作環境
Chroma 3650-S2 采用Chroma整合軟件平臺CRISP，這是一套易于操作且功能強大的軟件工具，讓使用者可以高效地進行測試開發，其功能涵蓋調試、量產及數據分析等，整合了測試程序開發、測試執行控制、數據分析、測試機管理等所有軟件功能，采用Microsoft Windows操作系統及C++程序語言，提供使用者強大、快速和友善操作的GUI工具。
在測試程序整合開發環境（Project IDE tool）內，測試開發人員可以在標準模板、自定義模板和使用C++程序語言的編輯器之間輕松轉換，快速創建測試程序并自動擴展至多工位以便進行并行測試，此外，如果需從其他測試平臺轉移至3650-S2，CRISP還提供測試程序和測試向量轉換工具，除了提升設備整合開發彈性，也能降低轉移的時間成本。測試程序執行控制器可以在System Control tool和Plan Debugger tool這兩種工具之間切換，讓使用者在量產或工程調試模式都能有效率地操作，使用者可以在Plan Debugger tool內透過設置 breakpoint、step、step-into、step-over、resume execution、variable-watch及variablemodify來執行測試程序的進程。
CRISP提供豐富軟件工具來進行工程調試和數據分析，包含Datalog、Waveform 及 Scope 工具可以清楚的顯示測量數據和數字波型，SHMOO 和Pin Margin工具可以透過自動或手動模式輕松地進行工程調試以找出邊沿參數，Wafer Map、Summary、Histogram 及STDF這些工具可以有效幫助搜集測試結果和分析測試指標，Test Condition Monitor 和 Pattern Editor 工具提供實時工程調試的進階功能，并且在不影響測試或調整源文件的狀況下，允許用戶調整測試條件或測試向量。另外，CRISP還為模擬測試和ALPG選配功能提供 ADDA tool 和 Bit Map tool，運用 ADDA tool 時，用戶不但可以透過圖形化工具來檢視AD/DA的測試結果，還能輕松自行創建ADC向量。這套強大的GUI工具可以完整地滿足你對于工程調試和生成測試報告的所有功能需求。
操作員界面（OCI）是使用于量產的操作界面，它能簡化并確保量產測試的正確運作，在讓操作員操作OCI之前，工程師可以事先在量產設置頁面（Production Setup）設定好量產時所需的相關參數，后續當操作員使用OCI時，只需選擇設定好的計劃即可執行量產測試。
